産品名稱:熱(rè)釋光(guāng)測量系統
産品型号:
更新時(shí)間:2024-05-22
産品特點:熱(rè)釋光(guāng)測量系統由熱(rè)釋光(guāng)探測器退火爐和(hé)熱(rè)釋光(guāng)片組成。熱(rè)釋光(guāng)探測器退火爐是對(duì)熱(rè)釋光(guāng)探測器進行熱(rè)處理(lǐ)的(de)設備,用(yòng)于熱(rè)釋光(guāng)探測器使用(yòng)前和(hé)照(zhào)射後的(de)熱(rè)處理(lǐ)。使用(yòng)前的(de)熱(rè)處理(lǐ)用(yòng)于消除探測器的(de)殘餘劑量,恢複探測器的(de)初始靈敏度和(hé)發光(guāng)曲線的(de)形狀;照(zhào)後低溫退火用(yòng)于消除探測器的(de)低溫峰,縮短測量周期,多(duō)用(yòng)于大(dà)批量探測器的(de)測量。
熱(rè)釋光(guāng)探測器退火爐是對(duì)熱(rè)釋光(guāng)探測器進行熱(rè)處理(lǐ)的(de)設備,用(yòng)于熱(rè)釋光(guāng)探測器使用(yòng)前和(hé)照(zhào)射後的(de)熱(rè)處理(lǐ),是熱(rè)釋光(guāng)測量系統的(de)數據讀出部分(fēn)。使用(yòng)前的(de)熱(rè)處理(lǐ)用(yòng)于消除探測器的(de)殘餘劑量,恢複探測器的(de)初始靈敏度和(hé)發光(guāng)曲線的(de)形狀;照(zhào)後低溫退火用(yòng)于消除探測器的(de)低溫峰,縮短測量周期,多(duō)用(yòng)于大(dà)批量探測器的(de)測量。
特點
-自動校準、中文菜單、數據庫編譯/檢索、發光(guāng)曲線顯示/存儲、數據打印、條碼掃描、模塊結構、性能穩定可(kě)靠、維修簡便
-采用(yòng)升降電加熱(rè)系統,采用(yòng)移動式加熱(rè)盤,測量後可(kě)直接将加熱(rè)盤取下(xià)來(lái),不需收樣器
-半導體緻冷(lěng):可(kě)根據需要改變光(guāng)電倍增管的(de)工作溫度,30min可(kě)制冷(lěng)到5℃,降低光(guāng)測量系統的(de)熱(rè)噪聲信号,提高(gāo)測量精度
-電容式觸摸按鍵:上、下(xià)、左、右、确認
-讀出器整機采用(yòng)模塊結構,具有整體性好、外形美(měi)觀、性能可(kě)靠、簡便等特點
-讀出器能夠雙抽屜結構,側抽屜用(yòng)于光(guāng)測量系統的(de)清洗,可(kě)在線清洗(不需關機)
-自動篩選:用(yòng)于對(duì)探測器的(de)篩選浏覽,從待測探測器中随意抽取一組探測器,測後求出其平均值
-将平均值和(hé)所需分(fēn)散性質(離散程度),輸入到出器中,即可(kě)根據讀出器面闆給出的(de)分(fēn)檔号進行篩選測量,具有采用(yòng)多(duō)台讀出器對(duì)同一批探測器篩選的(de)功能
-雙抽屜結構:從食品中提取的(de)矽酸鹽礦物(wù)質爲顆粒狀,測量時(shí)樣品中的(de)雜(zá)質會對(duì)光(guāng)測量系統造成污染,可(kě)在線清潔光(guāng)測量系統
-抽屜在外清洗、烘幹加熱(rè)盤
-抽屜在外清洗加熱(rè)盤并在外程序烘幹
主要參數指标
-測量系統穩定性:≤0.1%
-加熱(rè)參數設置:儲存十組加熱(rè)參數,可(kě)根據需要改變參數設置
-劑量線性測量範圍:10-2Gy~10Gy
-測量系統穩定性:≤0.1%
-靈敏度重複性的(de)變化(huà)系數:≤0.1%±0.05%/℃
-加熱(rè)時(shí)間重複性:≤0.1%
-加熱(rè)溫度範圍 :0~500℃ 加熱(rè)速率:1~40℃/s
-加熱(rè)溫度重複性:≤1% 加熱(rè)溫度偏差:≤±1℃
-半導體緻冷(lěng):5℃(<30min),可(kě)根據需要設置制冷(lěng)溫度
-外形尺寸(W*D*H):280mm*440mm*420mm
-重量:≤20kg
-儲存溫度:-10~50℃
-工作溫度:0~40℃
-相對(duì)濕度:≤90%
-電源:220V±10%,50Hz
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